1.1 双极型半导体
根据载流子参与导通截止工作的特性分为双极性和单极性。有电子、空穴两种载流子参与导电的称为双极性半导体,如TTL。只有一种载流子(电子或空穴)参与导电称为单极型三极管,如MOS。
1.将P型半导体和N型半导体结合起来,形成PN结。PN结是双极型半导体器件的基础。加偏置电压后PN结内部存在着多子扩散运动和少于漂移运动。PN结正向偏置时多子扩散运动的规模超过了少子漂移运动,因此形成丁较大的正向电流;当PN结反向偏置时少子漂移运动形成反向电流。由于少子的数目少,所以反向电流很小。PN结具有单向导电特性。但是击穿后,会产生较大的电流,反向击穿分为奇纳击穿和雪崩击穿
2.二极管由P型和N型半导体组成,分为硅管和储管两种类型。硅管的导通电压约为0.5V,管子导通后管压降约为0.6~0.8V;锗管的导通电压为0.1V,管子导通后管压降约为0.1~0.3V。
二极管在模拟电路中常作为整流元件或非线性元件使用:在数字电路中,常作为开关元件使用。半导体二极管的主要应用领域有钳位、限幅和整流等。二极管是非线性电子器件,其特性用伏安特性曲线表示。
3.三极管
顾名思义,三极管是有三个电极的半导体器件。因工作原理不同,三极管可分为双极型三极管和单极型三极管。双极型三极管有电子、空穴两种载流子参与导电,单极型三极管只有一种载流子(电子或空穴)参与导电。单极型三极管又称场效应晶体管,
1.2 双极型三极管-TTL
双极型三极管是一种电流控制器件,用基极电流控制集电极电流,即三极管具有电流放大作用。先说双极型三极管一一简称三极管或晶体管。具体工作描述(见批注,主要是考虑写下来太繁琐)
晶体三极管是一种电流控制电流源型器件,其输出特性曲线分为截止区、放大区和饱和区。 NPN型硅管,当ube<0.5V时,管子截上,即Ib=0,Ic=0; 当UBE≈0.7V且uCE=UCES=0.3V时(UC<UB)或iB=IBS>ICS/β=(Uc-Uces)/(RC·β),管子处于饱和状态,当uBE≈0.7V 且uCE>UCES=0.3V时(Uc>UB)或iB<IBS,管子处于放大状态,且iC=βiB。管子的放大区多应用于模拟电路,截止区及饱和区多应于数字电路
1.3 单极性三极管-场效应晶体管
场效应管(英缩写FET)是电压控制器件,它由输入电压来控制输出电流的变化。它具有输入阻抗高噪声低,动态范围大,温度系数低等优点,因而广泛应用于各种电子线路中。场效应管有结型和绝缘栅两种结构(注意两种图形的画法),每种结构又有N沟道和P沟道两种导电沟道
1.3.1 结型场效应管(JFET)
结构原理 它的结构及符号见图。
在N型硅棒两端引出漏极D和源极S两个电极,又在硅棒的两侧各做一个P区,形成两个PN结。在P区引出电极并连接起来,称为栅极G。这样就构成了N型沟道的场效应管。由于PN结中的载流子已经耗尽,故PN基本上是不导电的,形成了所谓耗尽区,从图1中可见,当漏极电源电压ED一定时,如果栅极电压越负,PN结交界面所形成的耗尽区就越厚,则漏、源极之间导电的沟道越窄,漏极电流ID就愈小;反之,如果栅极电压没有那么负,则沟道变宽,ID变大,所以用栅极电压EG可以控制漏极电流ID的变化,就是说,场效应管是电压控制元件。
1.3.2 绝缘栅场效应管
它是由金属、氧化物和半导体所组成,所以又称为金属-氧化物-半导体场效应管,简称MOS场效应管。MOSFET漏源之间的电流通过一个沟道(CHANNEL)上的栅(GATE)来控制。
注: MOSFET的原意MOS代表金属(METAL)-氧化物(OXIDE)-半导体(SEMICONDUCTOR),即以金属层(M)的栅极隔着氧化层(O)利用电场的效应来控制半导体(S)。FET (FIELD EFFECT TRANSISTOR 场效应晶体管)的名字也由此而来。然而现在FET中的栅极并不是金属做的,而是用多晶硅(POLY)来做栅极
1.3.3 增强N型MOS管
1.3.3.1 结构与符号
下图是N沟道增强型MOS管的结构示意图和符号。它是在一块P型硅衬底上,扩散两个高浓度掺杂的N+区,在两个N+区之间的硅表面上制作一层很薄的二氧化硅绝缘层,然后在和两个N型区表面上分别引出三个电极,称为源极s、栅极g和漏极d。
在其图形符号中,箭头表示漏极电流的实际方向。
1.3.3.2 工作原理
图Z0125中衬底为P型半导体,在它的上面是一层SiO2薄膜、在SiO2薄膜上盖一层金属铝,如果在金属铝层和半导体之间加电压UGS,则金属铝与半导体之间产生一个垂直于半导体表面的电场,在这一电场作用下,P型硅表面的多数载流子-空穴受到排斥,使硅片表面产生一层缺乏载流子的薄层。同时在电场作用下,P型半导体中的少数载流子-电子被吸引到半导体的表面,并被空穴所俘获而形成负离子,组成不可移动的空间电荷层(称耗尽层又叫受主离子层)UGS愈大,电场排斥硅表面层中的空穴愈多,则耗尽层愈宽,且UGS愈大,电场愈强;当UGS增大到某一栅源电压值VT(叫临界电压或开启电压)时,则电场在排斥半导体表面层的多数载流子-空穴形成耗尽层之后,就会吸引少数载流子-电子,继而在表面层内形成电子的积累,从而使原来为空穴占多数的P型半导体表面形成了N型薄层。由于与P型衬底的导电类型相反,故称为反型层。在反型层下才是负离子组成的耗尽层。这一N型电子层,把原来被PN结高阻层隔开的源区和漏区连接起来,形成导电沟道。用图Z0126所示电路来分析栅源电压UGS控制导电沟道宽窄,改变漏极电流ID
的关系:当UGS=0时,因没有电场作用,不能形成导电沟道,这时虽然漏源间外接有ED电源,但由于漏源间被P型衬底所隔开,漏源之间存在两个PN结,因此只能流过很小的反向电流,ID≈0;当UGS>0并逐渐增加到VT时,反型层开始形成,漏源之间被N沟道连成一体。这时在正的漏源电压UDS作用下;N沟道内的多子(电子)产生漂移运动,从源极流向漏极,形成漏极电流ID。显然,UGS愈高,电场愈强,表面感应出的电子愈多,N型沟道愈宽沟道电阻愈小,I愈大。
3.输出特性曲线;N沟道增强型MOS管输出特性曲线如图Z0127所示,它是UGS为不同定值时,ID与UDS之间关系的一簇曲线。由图可见,各条曲线变化规律基本相同。现以UGS=5V一条曲线为例来进行分析。设
UGS>VT,导电沟道已形成。当UDS= 0时,沟道里没有电子的定向运动,ID=0;当UDS>0且较小时,沟道基本保持原状,表现出一定电阻
以一块P型薄硅片作为衬底,在它上面扩散两个高杂质的N型区,作为源极S和漏极D。在硅片表覆盖一层绝缘物(SiO2),然后再用金属铝(现在为多晶硅poly)引出一个电极G(栅极)由于栅极与其它电极绝缘,所以称为绝缘栅场效应管。当栅极电压改变时,沟道内被感应的电荷量也改变,导电沟道的宽窄也随之而变,因而漏极电流ID随着栅极电压的变化而变化。
场效应管的式作方式有两种:耗散型和增强型。当栅压为零时有较大漏极电流的称为耗散型;当栅压为零,漏极电流也为零,必须再加一定的栅压之后才有漏极电流的称为增强型。
上图所示的是耗散型,在制造管子时,通过工艺使绝缘层中出现大量正离子,故在交界面的另一侧能感应出较多的负电荷,这些负电荷把高渗杂质的N区接通,形成了导电沟道,即使在VGS=0时也有较大的漏极电流ID。
(2)特性曲线
* 转移特性(栅压----漏流特性)
图(a)给出了N沟道耗尽型绝缘栅场效应管的转移行性曲线,图中Vp为夹断电压(栅源截止电压);IDSS为饱和漏电流。图(b)给出了N沟道增强型绝缘栅场效管的转移特性曲线,图中Vr为开启电压,当栅极电压超过VT时,漏极电流才开始显著增加。
* 漏极特性(输出特性)
图(a)给出了N沟道耗尽型绝缘栅场效应管的输出特性曲线。
图 (b )为N沟道增强型绝缘栅场效应管的输出特性曲线 。
(3)场效应管的主要参数
1、夹断电压VP
当VDS为某一固定数值,使IDS等于某一微小电流时,栅极上所加的偏压VGS就是夹断电压VP。
2、饱和漏电流IDSS
在源、栅极短路条件下,漏源间所加的电压大于VP时的漏极电流称为IDSS。
3、击穿电压BVDS
表示漏、源极间所能承受的最大电压,即漏极饱和电流开始上升进入击穿区时对应的VDS。
4、直流输入电阻RGS
在一定的栅源电压下,栅、源之间的直流电阻,这一特性有以流过栅极的电流来表示,
结型场效应管的RGS可达1000000000欧而绝缘栅场效应管的RGS可超过10000000000000欧。
5、低频跨导gm
漏极电流的微变量与引起这个变化的栅源电压微数变量之比,称为跨导,即
gm= △ID/△VGS
它是衡量场效应管栅源电压对漏极电流控制能力的一个参数,也是衡量放大作用的重要参数,
此参灵敏常以栅源电压变化1伏时,漏极相应变化多少微安(μA/V)或毫安(mA/V)来表示
1.4 TTL和FET的对比小节
三极管 | TTL | FET |
| 的取名transistor and transistor logic,是一种典型的双极性晶体管 | 场效应管 Field effective transistor 分为结型FET和绝缘栅型FET(也称MOS) |
| 双极型三极管 有电子、空穴两种载流子参与导电 | 单极型三极管 只有一种载流子(电子或空穴)参与导电。 |
| PN结是双极型半导体器件的基础 NPN和PNP | MOS中P管和N管,是对沟道而言。N沟道意思指得是G和S之间导通的沟道是N型,所以对应的衬底是P型。 P沟道的衬底是N型 |
工作原理 | 电流驱动 | 电压控制 |
| 存在截止,饱和,放大 | ? |
| 对于TTL和CMOS都存在,截止、饱和、放大的工作区(好像CMOS没有饱和区?)。数字电路的设计正是利用了晶体管的截止和放大区。但是正因为存在放大区,才出现了数字电路中的同步设计中需要注意的建立保持时间。 | |
功耗 | 其实在超高速频率下,CMOS比TTL要使用更多的功率(?),但是现在的应用暂时没有到这个速度(即输出转换频率的极限)。比如说CMOS的动态功耗。 | 分为动态功耗和静态功耗 动态功耗: P=C*V*V*f |
使用场所 | 需要大的驱动电流的场合 (比如采用射随器等) 适合大功率,如音响,电力 ??对吗,还有其它吗 | 与电流控制的双极型晶体三极管不同,场效应晶体管是一种电压控制的单极型半导体器件。 它不但具有一般三极管体积小、重量轻、耗电省、寿命长等优点,而且还具有输入阻抗高、噪声低、热稳定性好、抗辐射能力强等优于普通三极管的特点,因此被广泛地应用于各种电子线路中。场效应晶体管按其结构不同可分为结型和绝缘栅型两类。 其中,绝缘栅型场效应晶体管(即MOS)在制作上比较简单,目前已大量用于制造集成电路.
|
| 在大功率中以前,但是由于CMOS的工艺不断增强,大功率的MOS管越来越被实现。其使用越来越灵活。比如ultraMos 对于高速设计,原来采用基于双极型电路的砷化钾(工艺,现在CMOS的高速设计能力也得到很到的提高,但是对于超高速大功率 对于高电压的设计,以前采用TTL,现在CMOS也能完成,这样模拟电路都能集中到 |
1.5 CMOS
由于半导体具有可控开关的作用(比如三极管,根本则在于掺杂的半导体其电阻变化很大.)。目前使用的数字路最常用的是TTL系列和CMOS系列。在两种不同系列的门电路中,他们虽具有相同的逻辑功能而两者的结构、制造工艺却不同,其外形尺寸、性能指标也有所差别。
1.5.1 晶体管历史
20世纪30年代贝尔实验室开发的第一部电控逻辑电路是基于继电器逻辑的
20世纪40年代首部电子数字计算机(Eniac)是基于真空管的逻辑电路
20世纪50年代末期发明的半导体二极管(semiconductor diode)和双极结型晶体管
20世纪60年代发明了IC,还出现了集成电路逻辑系列
最成功的双极型逻辑系列(bipolar logic family)属于TTL(transitor-transistor logic,晶体管-晶体管逻辑)。但是20世纪90年代,TTL基本被CMOS替代,其实在双极型晶体管前10年出现了MOSFET,但是由于MOS制造工艺困难,且速度仍然差很多的缺点,所以没有替换TTL。但是到80年代出现了CMOS电路(complementary MOS) ,现在数字电路的基础就是CMOS电路。当然TTL也能实现数字,但是基本让位于CMOS,当然对于大功率超高速的设计,TTL的应用还是占用优势的(GaAS)。
1.5.2 CMOS结构
CMOS, 采用PMOS和NMOS,增强型NMOS在栅极高电压时导通,而PMOS(增强?耗尽?)在栅极电压为低时导通。这样类似TTL图腾柱(推挽电路)可以提高驱动力,降低功耗。
其结构如下图:
如图所示,另外虽然对于PMOS管,Vdd接在S极,这个Vdd的取名来自于MOS管应用的时候漏极接电源,就是指电源。
1.5.3 CMOS的优势
主要是相对于单个MOS电路以及TTL而言,CMOS逻辑电路具有优点:
它不但具有一般三极管体积小、重量轻、耗电省、寿命长等优点,而且还具有输入阻抗高、噪声低、热稳定性好、抗辐射能力强等优于普通三极管的特点,因此被广泛地应用于各种电子线路中。场效应晶体管按其结构不同可分为结型和绝缘栅型两类。
*.隔离栅结构使CMOS期间的输入电阻极大,从而使CMOS期间驱动同类逻辑门的能力比其他系列强得多
*.逻辑摆幅大,使电路抗干扰能力强
*.静态功耗低
*.工艺上的密度比TTL高
*允许的电源电压范围宽,方便电源电路的设计
补充:“与非”与“或非”,“与或非”:摘自《数字设计原理与实践》
CMOS与非门和或非们具有不同的性能。对于相同的硅面积,n沟道晶体管的“导通”电阻要比p沟道晶体管的要低。所以,当晶体管串联时,k个n沟道晶体管的“导通”电阻比k个p沟道晶体管的“导通”电阻要低。所以,k输入的与非们通常比k输入的或非门速度更快,因而更受欢迎。
当然“与或非”门虽然实现两级逻辑,但延迟和“与非们”一个级别,所以很受欢迎
1.5.4 MOS管应用
CMOS与非门电路,建议对于这种电路自己画画,更好地理解其工作原理掌握MOS管的基本画法
工作原理
A、 B同为高电平时T1 、T2截止, T3 、T4导通,L为低电平,符合与非逻辑关系。反之亦然。
思路来源: /(A.B) = /A + /B 相与则采用并联方式,相或采用串联方式
注意:两个N管的衬底接地
CMOS或非门
1.5.5 小节
掌握P管和N管画法
反相器/与非们/或非门的MOS门电路,要求能够画出来,以及每个门电路对应多少个MOS管。这是个概念,从而可以确定一个D触发器含有多少个MOS管。
同时因为在IC版图设计中,对于用户定制的IC设计,不再放MOS管,而是放CELL;(当然对于存储器,通用处理器等专用用量很大的IC,仍然是电路一级)。一个cell就是一个门电路,可以是反相器,也可以是与非门,其实就是综合后的网表文件中的基本元件。这样对于综合后的.v文件(以门电路来描述)就能直接导入到版图设计的EDA工具。
对于二极管、三极管及场效应管,掌握它们的特性曲线及主要参数可能会有好处。
1.1 乱七八糟的补充材料:
| 1)射极输出器的特点是: 1) 电压放大倍数小于1,且接近l,输出电压对输入电压具有跟随作用。 2) 输入电阻高,输出电阻低。 射极输出器在电子线路中应用较多,因其输入电阻高,可用作多级放大电路的输入级;因其输出电阻低,又有较大的电流放大倍数,为此可用作多级放大电路的输出级;在多级放大电路中,射极输出器也可用作中间级,以便隔离前、后级之间的相互影响。在电路中起阻抗变换作用。
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| 推挽TTL的输出不能直接相连,原因是防止电流击穿,另外如果要直接相连,必须采用线与。同样MOS管也不能相连 当然采用OC门可以线与,但是缺点是功耗大。类似单个mos管使用就没有CMOS的使用好 |
| MOSFET漏源之间的电流通过一个沟道(CHANNEL)上的栅(GATE)来控制。按MOSFET的原意 MOS代表金属(METAL)-氧化物(OXIDE)-半导体(SEMICONDUCTOR),即以金属层(M)的栅极隔着氧化层(O)利用电场的效应来控制半导体(S)。 FET (FIELD EFFECT TRANSISTOR 场效应晶体管)的名字也由此而来。然而现在FET中的栅极并不是金属做的,而是用多晶硅(POLY)来做栅极, 这也就是图中所注明的硅栅极(SILICONGATE)。在1978年时是用金属做栅极的,1979年的GEN-1HEXFET是世界上第一个采用多晶硅栅极的多原胞型功率MOSFET。
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| 作为功率MOSFET 来说,有两项参数是最重要的。一个是RDS(ON),即通态时的漏源电阻。另一个是QG,即栅极电荷,实际即栅极电容。栅极电容细分起来可分成好几个部分,与器件的外特性输入与输出电容也有较复杂的关系。 除此之外有些瞬态参数也需要很好考虑,这些我们留到后面再谈。 |
| 若选择Rds(on)较小的MOSFET,芯片尺寸就会较大,从而输入电容也较大。也就是说,导通损耗的减小将会造成较大的输入电容和控制器较大的功耗 详细可以阅读《采用零电压开关消除米勒效应》 |